AMAÇ: Dağılım, yayılım, proses yeterliliği, proses kararlılığı, aşırı ayar gibi kavramların anlaşılması ve Cp, Cpk, Pp, Ppk ilişkini anlamak. İstatistiksel tekniklere hakim olmak.

 

EĞİTİM SÜRESİ: 1 Gün

 

1. IATF ve spc ilişkisi

2. IATF ve müşteri özel istekleri ilişkisi

3. IATF ve özel karakteristik ilişkisi

4. Histogram

5. Konum

6. Yayılım

7. Standart sapma

8. Varyasyon ve varyasyon kaynakları

9. Varyasyon kaynaklarının azaltılması

10. Kontrol dışılık sinyalleri ve yorumlanması

11. Cp, Cpk ilişkisi

12. Cpk, Ppk ilişkisi

13. Z testleri ve uygulama

14. X-R kartı ve uygulama

15. X-MR kartının değerlendirilmesi

16. P kart

17. U kart

18. Stop light kartı ve uygulama

 

SPC EĞİTİMİ İLE KATILIMCILARIN KAZANIMLARI

 

KATILIMCI PROFİLİ

Kalite, proje, üretim ve laboratuvar personelleri